Keysight E5080B矢量网络分析仪去嵌入功能操作指南

一、概述

去嵌入（De-embedding）是矢量网络分析仪的一项高级功能，用于从测量结果中剥离测试夹具、电缆等引入的损耗与相移，将测试参考平面精确移动至DUT管脚处。Keysight E5080B ENA系列矢量网络分析仪支持多种去嵌入方式，主要包括夹具模拟器手动去嵌入和自动夹具移除（AFR） 两种途径。

二、方法一：通过夹具模拟器导入S2P/S4P文件进行去嵌入

此方法适用于已通过单独测量获得夹具S参数文件（Touchstone格式）的场景。

操作步骤：

准备夹具S参数文件：预先使用VNA单独测量夹具的S参数，保存为Touchstone文件（单端线使用*.s2p，差分线使用*.s4p）。将文件存放于VNA的本地目录（如C盘根目录）。

进入去嵌入设置界面：

方式一：点击 Adv Waveform 标签页 > De-embedding，启动高级波形向导。

方式二：按下前面板 Cal 键 > Fixtures > Fixture Setup，进入夹具设置菜单。

选择端口并加载文件：

对于2端口去嵌入：选择 2-port DeEmbed，勾选 Enable De-embedding (all ports)。点击 User S2P File，浏览并选择对应的*.s2p文件。

对于4端口及以上去嵌入：选择 N-port DeEmbed，勾选启用去嵌入，选择对应 Topology，然后分别加载各网络的S参数文件。

设置文件外推（可选） ：若S2P文件的频率范围小于当前测量频率范围，勾选 Enable Extrapolation，系统将自动以文件首尾点外推覆盖未定义的频段。

启用去嵌入：确认设置后点击 OK 或 Apply，去嵌入功能即生效。

注意：若夹具测量方向与连接方向相反（如端口2侧的夹具），需勾选 Reverse adapter ports 选项。

三、方法二：自动夹具移除（AFR）

AFR是E5080B提供的向导式去嵌入方案，通过测量2X Thru等标准件自动提取夹具S参数并完成去嵌入，操作更简便。

操作步骤：

进入AFR功能：确保仪器已安装S96007B自动夹具移除选件。

初始化设置：执行系统预设恢复默认AFR设置（:SYSTem:PRESet）。

配置夹具参数：

设置端口类型（单端/差分）

指定夹具数量

设置夹具匹配状态、长度状态等参数

测量标准件：

选择 2X Thru 标准件并执行测量（:AFR:STANdard:MEASure THRU）

测量第二个Thru标准件（:AFR:STANdard:MEASure STHRu）

测量带夹具的DUT标准件（:AFR:STANdard:MEASure FDUT）

保存夹具文件：系统自动提取夹具S参数并保存为Touchstone文件（:AFR:SAVE:FILename）。

应用去嵌入：通过夹具模拟器加载保存的夹具文件，完成去嵌入。

四、注意事项

校准先行：执行去嵌入前应先完成全端口校准（如SOLT），这是保证测量精度的前提。

文件格式：确保Touchstone文件的端口定义与实际测量端口一致。

固件版本：不同固件版本的界面可能存在差异，建议参考仪器内置帮助文档。

五、总结

E5080B的去嵌入功能通过夹具模拟器导入S参数文件或自动夹具移除（AFR）向导两种方式实现。前者适用于已有夹具S参数文件的场景，后者则通过测量标准件自动完成夹具提取与去除，操作更为便捷。合理使用去嵌入功能可有效消除测试夹具引入的误差，获得更接近DUT真实性能的测量结果。