6433D/6433F/6433H/6433L光波元件分析仪

• 校准方便快捷，向导式操作流程
• 一体化多功能操作界面
• 大动态测量范围，测量轨迹噪声小
• 用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用
• 单端-平衡光电器件模式测量
• 多功能化工具箱
• 内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

6433系列光波元件分析仪具备了电电、电光、光电、光光四种测量模式，功能模式之间可任意切换，满足目前绝大多数通用器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。

采用高精度和响应平坦的内部核心器件，结合设定不同的中频带宽值，可获得更大的动态测量范围和更小的轨迹噪声，可以获取测量结果的更多细节。

通过用户自定数据或夹具去嵌入数据提升测量精度，尤其在片测试时所需的探针误差移除时，使得测量更加灵活，满足用户不同场合的测量需求。

多功能化工具箱

内置大动态范围光功率计，可实时监测输入光功率数值，通过高级设置，可将光发射模块设定为保偏激光源输出模式（CW）模式，消光比大于20dB，为M-Z型LiNiO3调制器提供所需的保偏光源。

内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

测试不仅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1630nm的外部光源输入，覆盖更宽的通信波长，满足CWDM、DWDM系统核心器件测量需求。