了解的LCR测试仪的基本知识

       测量阻抗有几种不同的技术和方法，应该根据测量的频率范围、要测量的阻抗参数以及想要显示的测量结果来选择一个具体的测试技术。

　　自动平衡电桥技术在从毫欧姆到兆欧姆很宽的阻抗测量范围内有极高的测量精度，与之相适应的测量频率范围可以从几Hz到110MHz。

　　IV 和 RF-IV 技术在从毫欧姆到兆欧姆的阻抗测量范围内的测量精度同样很好，与之相适应测量频率范围可以从40Hz到3GHz左右。

　　传输 / 反射技术在非常宽的频率范围，从 5 Hz 到 110 GHz 以上，测量 50 欧姆或 75 欧姆附近的阻抗值时，具有非常高的测量精度。

　　LCR测试仪和阻抗分析仪的主要区别之一是它们对测量结果的显示方式。LCR 表用数字显示测量结果，而阻抗分析仪既可以用数字也可以用图形显示测量结果。

　　LCR表或阻抗分析仪所采用的测量技术和仪表的类型无关，根据测量的频率范围，它们可以采用RF-IV、IV 或自动平衡电桥技术。

　　在某种程度上，在决定产品的最终设计性能，甚至决定制成品的生产时都会与产品所用器件的阻抗值有关，最终产品的性能和质量会受到器件的测量精度以及对器件的测量是否够全面的影响。

　　图 0-1 各种测量方法和相应的测量精度范围

　   阻抗参数的确定和选择

　　阻抗是表征电子器件特性的参数之一。阻抗 (Z) 的定义是器件在给定的频率下对交流电流 (AC) 所起的阻碍作用。

　　阻抗通常用复数量 ( 矢量 ) 的形式来表示，可以把它画在极坐标上。坐标的第一和第二象限分别对应正的电感值和正的电容值 ; 第三和第四象限则代表负的电阻值。阻抗矢量由实部 ( 电阻 — R) 和虚部 ( 电抗 — X) 组成。

　　图 1-1 所示是阻抗矢量的值落在极坐标系统中第一象限的情况。

　　图 1-1. 阻抗的矢量表示

　　电容 (C) 和电感 (L) 的值可从电阻(R) 和电抗 (X) 值中推导出来。电抗的两种形式分别是感抗 (X L) 和容抗(X C)。

　　品质因数 (Q) 和损耗因数 (D) 也可从电阻和电抗的值中推导出来，这两个参数是表示电抗纯度的。当 Q 值偏大或 D 值偏小时，电路的质量更高。Q 的定义是器件所储存的能量与其做消耗的能量的比值。D 是 Q 的倒数。D 还等于“tan δ”，其中 δ 是介质损耗角 (δ 是相位角 θ 的余角 )。D 和 Q 均属于无量纲的量。

　　图 1-2 显示的是阻抗与可以从阻抗值中所推导出的参数的关系。

　　图 1-2. 电容器和电感器参数

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