矢量网络分析仪与噪声系数分析仪在微波半导体芯片中的测试解决方案（下）

　　上篇文章我们讲述了系统组成和测试原理的前两个步骤，本文安泰测试继续为大家介绍剩余部分。

       2.3 系统测试

　　(1)连接测试芯片

　　将噪声源输出端口连接到测试线缆，另一根线缆连接噪声系数分析仪输入端口。取下在片校准片，替换为低噪声放大器芯片，用直流电源为其供电，同时对载物台接地。低噪声放大器显微图片和测试连接示意图如图5所示。

　　图5 低噪声放大器测试连接

　　(2)测试结果及分析

　　3986噪声系数分析仪提供图形、表格、测试仪三种显示格式，可根据需求选择对应格式。在本次试验中，通过【格式】→[显示格式]→[图形]设置，查看当前测试数据的曲线图;通过【格式】→[显示格式]→[表格]设置，查看当前测试数据的表格数据。低噪声放大器芯片噪声系数、增益测试曲线和表格数据如图6所示。

　　图6 低噪声放大器芯片噪声系数、增益测试曲线和表格数据

　　已知该低噪声放大器芯片噪声系数典型值为1.05dB，增益为24dB。将测得的数据写入excel制成曲线(右)，与厂家提供的典型曲线(左)对比。噪声系数测试曲线对比如图7所示，增益测试曲线对比如图8所示。曲线重合度较高。

　　图7 噪声系数测试结果与典型曲线对比

　　图8 增益测试结果与典型曲线对比

　　总结

　　本次对低噪声放大器的测试，可应用于低噪声放大器芯片的生产测试环节，为保证测试的准确性，需要注意以下内容：

　　(1)3986噪声系数分析仪进行噪声系数和增益的测试，测试前要先连接噪声源进行主机校准，然后输入损耗补偿值。不推荐直接使用噪声系数分析仪测试附件插损。

　　(2)3672矢量网络分析仪用作系统校准，测试探针、线缆整体的S21，计算损耗补偿值。因此在校准前需要充分预热，保证校准数据可反复使用。

　　(3) 采用标量二分的方法补偿系统附件插损，DUT前和DUT后均等于-|S21|/2，因此需要探针和电缆具有较好的对偶一致性。

　　中电科思仪3672系列矢量网络分析仪

       我们用两篇文章讲述了矢量网络分析仪与噪声系数分析仪在微博半导体芯片中的测试解决方案，希望对大家有帮助。欢迎关注安泰测试，了解更多仪器仪表知识。