是德N5242B矢量网络分析仪如何测试S参数？

1. 简介

矢量网络分析仪(VNA)是一种常用的电子测量设备，广泛应用于通信、雷达、卫星等领域，用于测量电路或微波部件的S参数(散射参数)。N5242B是安捷伦(Keysight)公司推出的一款双端口4GHz频段的矢量网络分析仪，能够快速准确地测量电路的S参数。下面介绍如何使用N5242B测试S参数。

2. 测试系统搭建

使用N5242B测试S参数需要搭建如下测试系统:

- N5242B矢量网络分析仪

- 校准套件，如85052D 3.5mm标准校准套件

- 测试夹具或测试探针

- 被测器件

首先将N5242B的端口1和端口2分别连接到被测器件的输入和输出端。为确保测试精度，需要对测试系统进行校准，包括通路校准和反射校准。校准完成后即可进行S参数测试。

3. S参数测试步骤

（1）设置测试频段

在N5242B上设置测试频段，一般根据被测器件的工作频段选择合适的频段。例如对于4GHz频段的器件，可设置1MHz到4GHz的测试频段。

（2）选择S参数显示模式

N5242B支持多种S参数显示模式，如幅度/相位、实部/虚部、dB/度等。根据测试需求选择合适的显示模式。

（3）测试S参数

开始测试时，N5242B会自动在选定的频段内扫描并测量4个S参数:S11、S12、S21、S22。测试过程中，可实时观察S参数的幅度和相位变化。

（4）保存测试数据

测试完成后，可将测试数据保存到内部存储器或导出到外部存储设备，如U盘，以便后续分析。

4. 测试结果分析

通过测试获得的S参数数据，可以分析被测器件的性能指标，如:

- 输入反射系数S11:反映输入端的阻抗匹配情况

- 传输系数S21:反映信号从输入端到输出端的传输特性

- 隔离度S12:反映信号从输出端到输入端的隔离程度

- 输出反射系数S22:反映输出端的阻抗匹配情况

分析这些S参数可以全面评估被测器件的工作状态，为电路设计、优化和调试提供依据。

N5242B矢量网络分析仪凭借其出色的测量性能和友好的操作界面，能够快速准确地测量S参数，为微波电路设计与调试提供有力支持。掌握N5242B的使用方法，对于提高测试效率和测试结果准确性都有重要意义。