普源RSA3045N频谱分析仪如何测试杂波抑制

普源RSA3045N频谱分析仪测试杂波抑制的步骤

一、准备工作

1. 准备好频谱分析仪RSA3045N和待测设备（如放大器、滤波器等）。

2. 连接好频谱分析仪和待测设备，确保信号路径正确无误。

3. 根据待测设备的工作频段，设置好频谱分析仪的中心频率和频宽。

4. 选择合适的分辨率带宽(RBW)和视频带宽(VBW)，以获得所需的测量精度。

二、测试步骤

1. 开启频谱分析仪，让其进入正常工作状态。

2. 在空载条件下，观察频谱分析仪的噪声底线。这就是系统本身的噪声水平。

3. 打开待测设备，观察频谱图上出现的各种谐波和杂散分量。这些都是待测设备产生的杂波成分。

4. 将待测设备的输入端接地，观察频谱图上只有系统噪声底线，没有其他杂波成分出现。这就是待测设备本身的杂波抑制性能。

5. 切换到不同的频段，重复步骤2-4，全面评估待测设备的杂波抑制特性。

三、数据分析

1. 通过比较步骤2和步骤4的频谱图，可以计算出待测设备的杂波抑制比(Spurious Rejection Ratio， SRR)。

   SRR = 待测设备杂波功率 - 系统噪声功率

2. SRR越高，表示待测设备的杂波抑制性能越好。

3. 将测试结果与厂商提供的技术指标对比，判断待测设备的杂波抑制性能是否符合要求。

四、测试结果展示

1. 可以用屏幕截图保存测试过程中的关键频谱图。

2. 整理出待测设备在不同频段的SRR测试数据，形成完整的测试报告。

3. 测试报告可以包括：测试环境、测试设备、测试步骤、测试数据、结论等内容。

通过以上步骤，可以全面评估普源RSA3045N频谱分析仪在测试杂波抑制方面的性能。该仪器凭借出色的动态范围和低噪声特性，能够准确测量各种电子设备的杂散抑制指标，为产品研发及生产质量控制提供可靠的测试支持。