CH-8|8"~12" 综合性分析探针台测试系统
◆ 最大可用于12英寸以内样品测试
◆ 同轴丝杠传动结构,线性移动
◆ 大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计
◆ 针座平台快速、微调升降功能
◆ 可搭配多种类型显微镜
◆ 晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等
◆ 结构模块化设计,可无缝升级
◆ 探针台可根据客户要求定制。
![CH-12 综合性分析探针台测试系统(图1)](/uploads/ueditor/2023/11/27/1701078170-6564649a4b449.png)
可选附件:加热台 显示器 转接头 射频测试配件 屏蔽箱 光学平台 镀金卡盘 光电测试配件 高压测试配件 显微镜快速倾仰装置 激光系统 探针卡夹具
规格及设计如有更改,恕不另行通知。